原子吸收光譜儀是光譜分析的常用儀器之一，是檢測金屬元素的常規(guī)儀器。主要有氫火焰、石墨爐及混合型原子吸收，其中石墨爐原子吸收光譜儀以石墨爐為原子化器，靈敏度高，試樣用量少，能檢測10-12g/mL級(jí)別的元素，在痕量分析中使用廣泛。原子吸收光譜儀在使用時(shí)會(huì)遇到四大干擾因素，影響檢測結(jié)果，那么，有哪四種干擾呢？如何消除干擾？在這里為大家匯總一下原子吸收的四大干擾消除方法！

其一：物理干擾

試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)過程中物理因素變化引起的干擾效應(yīng)，主要影響試樣噴入火焰的速度、進(jìn)樣量、霧化效率、原子化效率、霧滴大小等。物理干擾是非選擇性干擾，對(duì)各種元素影響基本相同。

干擾因素消除方法：

1）配置相似組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，采用標(biāo)準(zhǔn)加入法；

2）盡可能避免使用粘度大的硫酸、磷酸來處理試樣；

3）當(dāng)試樣濃度較高時(shí)，適當(dāng)稀釋試液也可以抑制物理干擾。

其二：化學(xué)干擾

待測元素與其它組分之間的化學(xué)作用，生成了難揮發(fā)或難解離的化合物，使基態(tài)原數(shù)目減少所引起的干擾效應(yīng)。主要影響到待測元素的原子化效率，是主要干擾源。化學(xué)干擾是選擇性干擾。

成因分析：

1）分子蒸發(fā)：待測元素形成易揮發(fā)鹵化物和某些氧化物，在灰化溫度下蒸發(fā)損失；

2）形成難離解的化合物（氧化物、炭化物、磷化物等）；

3）氧化物：較難原子化的元素B、Ti、Zr、V、Mo、Ru、Ir、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、U；

4）很難原子化的元素：Os、Re、Nd、Ta、Hf、W；

5）炭化物：Be、B、Al、Ti、Zr、V、W、Si、U稀土等形成難揮發(fā)炭化物；

6）磷化物：Ca3PO4等。

干擾因素消除方法：

1）提高火焰溫度使得難解離的化合物較*基態(tài)原子化。

2）加入釋放劑，與干擾元素生成更穩(wěn)定或更難揮發(fā)的化合物，使待測元素釋放出來。常用的釋放劑：LaCl3、Sr（NO3）2等。（如：火焰原子吸收法測定鈣，磷酸鹽的存在會(huì)生成難揮發(fā)的Ca2P2O7，此時(shí)可以加入LaCl3，則La3+與PO43-生成熱更穩(wěn)定的LaPO4，抑制了磷酸根對(duì)鈣測定的干擾。）

3）加入保護(hù)劑，待測元素形成穩(wěn)定的絡(luò)合物，防止待測元素與干擾物質(zhì)生成難揮發(fā)化合物。常用的保護(hù)劑：EDTA、8-羥基喹林、乙二醇等。（如：火焰原子吸收法測定鈣，磷酸鹽的存在會(huì)生成難揮發(fā)的Ca2P2O7，加入EDTA，生成EDTA-Ca絡(luò)合物，該絡(luò)合物在火焰中易于原子化，避免磷酸根與鈣作用。）

4）加入基體改進(jìn)劑，改變基體或被測元素的熱穩(wěn)定性，避免化學(xué)干擾，這些化學(xué)試劑稱為基體改進(jìn)劑。（如：測定海水中Cu、Fe、Mn，加入基體改進(jìn)劑NH4NO3，使NaCl基體轉(zhuǎn)變成易揮發(fā)的NH4Cl和NaNO3，使其在原子化之前低于500℃的灰化階段除去。）

5）化學(xué)分離法，用化學(xué)方法將待測元素與干擾元素分離。常用的化學(xué)分離法：萃取法、離子交換法、沉淀法。

其三：電干擾

某些易電離元素在火焰中產(chǎn)生電離，使基態(tài)原子數(shù)減少，降低了元素測定的靈敏度，這種干擾稱為電離干擾。電離干擾的程度與火焰溫度及元素種類有關(guān)。

干擾因素消除方法：

采用低溫火焰或在試液中加入過量的更易電離的化合物（消電離劑），能夠有效地抑制待測元素的電離。在火焰溫度下，消電離劑首先電離，產(chǎn)生大量的電子，抑制了被測元素的電離。

其四：光譜干擾

光譜干擾主要分為譜線干擾和背景干擾兩種。主要來源于光源和原子化器。

1. 發(fā)射線的鄰近線的干擾：指空心陰極燈的元素、雜質(zhì)或載氣元素的發(fā)射線與待測元素共振線的重疊干擾；吸收線重疊的干擾：指試樣中共存元素吸收線與待測元素共振線的重疊干擾。

譜線干擾消除方法：

減小單色器的光譜通帶寬度，提高儀器的分辨率，使元素的共振線與干擾譜線*分開。或選擇其它吸收線等方法抑制譜線干擾。

2. 背景干擾主要是指原子化過程中產(chǎn)生的分子吸收和固體微粒產(chǎn)生的光散射干擾效應(yīng)。

背景干擾消除方法：

（1）火焰：改變火焰類型、燃助比、調(diào)節(jié)火焰觀測區(qū)高度。

石墨爐：選用適當(dāng)?shù)幕w改進(jìn)劑。

（2）光譜背景的校正

A、用鄰近非共振線校正背景

用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度，在分析線鄰近選一條非共振線，此時(shí)測出的是背景吸收，兩次測量值之差即為校正背景后的吸光度。這種校正方法準(zhǔn)確度較差，只適用于分析線附近背景分布比較均勻的情況。

B、用連續(xù)光源校正背景

用銳線光源測定分析線的原子吸收和背景吸收的總吸光度，再用氘燈（紫外區(qū)）或碘鎢燈（可見區(qū)）在同一波長測定背景吸收，計(jì)算兩次測定吸光度之差，即為校正背景后的吸光度。由于空心陰極燈與氘燈兩種連續(xù)光源放電性質(zhì)不同，能量分布不同，會(huì)導(dǎo)致背景校正不足或過度。

C、用塞曼效應(yīng)校正背景

塞曼效應(yīng)校正背景基于磁場將吸收線分裂為具有不同偏振方向的組分，利用這些分裂的偏振成分來區(qū)別被測元素和背景吸收。塞曼效應(yīng)校正背景的準(zhǔn)確度高，但儀器價(jià)格較貴。